特許
J-GLOBAL ID:201103025837794648

腐食検出製品および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 古谷 栄男 ,  松下 正 ,  鶴本 祥文
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-504174
公開番号(公開出願番号):特表2011-516891
出願日: 2009年04月09日
公開日(公表日): 2011年05月26日
要約:
腐食検出製品は、フィルム形成材料および錯化剤を含有する被覆であり、前記錯化剤は、前記被覆が施される基体上の腐食によって生成される腐食副産物と接触する際に錯体を形成し、前記錯体は、前記腐食を検知するため、前記被覆が放射線にさらされる際に、前記錯化剤とは検知可能に相違し、前記錯化剤は、前記被覆から前記錯化剤あるいは前記錯体の浸出を減じるために、前記被覆で固定されている。
請求項(抜粋):
下記を含む腐食検出製品: フィルム形成材料および錯化剤を含有する被覆であること、 前記錯化剤が、前記被覆が施される基体上の腐食によって生成される腐食副産物と接触する際に錯体を形成すること、 前記錯体が、前記腐食を検知するため、前記被覆が放射線にさらされる際に、前記錯化剤とは検知可能に相違すること、 前記錯化剤が、前記被覆から前記錯化剤あるいは前記錯体の浸出を減じるために、前記被覆で固定されていること。
IPC (1件):
G01N 17/00
FI (1件):
G01N17/00
Fターム (6件):
2G050AA01 ,  2G050BA02 ,  2G050CA03 ,  2G050DA01 ,  2G050EB07 ,  2G050EC05

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