特許
J-GLOBAL ID：201103026252233191

低コヒーレンス光源を用いた動的光散乱測定装置及び光散乱強度測定方法

発明者：
石井 勝弘

石井 勝弘 について

, 
中村 崇市郎

中村 崇市郎 について

, 
佐藤 悠貴

佐藤 悠貴 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (2件)： 飯田 敏三 ,  宮前 尚祐
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-159307
公開番号（公開出願番号）：特開2011-013162
出願日： 2009年07月03日
公開日（公表日）： 2011年01月20日
要約：
【課題】微細な粒子を含有する高濃度微粒子含有液において高精度な粒径に関する測定(粒径、その凝集状態等の測定)を可能にする動的光散乱測定及びその測定方法を提供する。【解決手段】マッハツェンダー型干渉計と低コヒーレンス光源とを有する動的光散乱測定装置、並びに、マッハツェンダー型干渉計による動的光散乱測定法を用い、低コヒーレンス光源から発せられた光により測定する、媒体中の粒子の光散乱強度測定方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
マッハツェンダー型干渉計と低コヒーレンス光源とを有する動的光散乱測定装置。
IPC (2件)：
G01N 15/02 ,  G01N 21/27
FI (2件)：
G01N15/02 A ,  G01N21/27 H
Fターム (11件)：
2G059BB09 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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