特許
J-GLOBAL ID：201103026835236555
コネクタ、試験装置、及び接触検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華 明裕
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-186924
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013210
特許番号：特許第4357642号
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 凸型コネクタと凹型コネクタとを含む接続用の電気部品であって、
前記凸型コネクタは、第一の電気的端子と、ガス流入口と、前記ガス流入口から流入したガスを前記第一の電気的端子の位置に流出させるガス流出口とを備え、
前記凹型コネクタは、第二の電気的端子と、前記ガス流出口から前記第一の電気的端子と前記第二の電気的端子とが接触すべき位置に流出したガスを前記凹型コネクタの外部に排出する排出口とを備え、
当該電気部品は、前記凹型コネクタと前記凸型コネクタが嵌合した状態において、前記第一の電気的端子と前記第二の電気的端子とが接触した状態と、前記第一の電気的端子と前記第二の電気的端子とが接触しない状態との2つの状態を実現する着脱機構を更に備える
電気部品。
IPC (5件)：
G01R 31/26 ( 200 6.01)
, G01R 31/04 ( 200 6.01)
, H01L 23/32 ( 200 6.01)
, H01R 13/64 ( 200 6.01)
, H01R 24/00 ( 200 6.01)
G01R 31/26 J
, G01R 31/04
, H01L 23/32 A
, H01R 13/64
, H01R 23/02 D
