特許
J-GLOBAL ID：201103027439300204
測量における難測定個所の測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中野 収二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-192418
公開番号（公開出願番号）：特開2001-021352
特許番号：特許第3148743号
出願日： 1999年07月07日
公開日（公表日）： 2001年01月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光の送受信による測距機能と水平角及び鉛直角による測角機能を備えた測距測角儀TSを使用することにより、測距可能な第一観測点P1と測距可能な第二観測点P2を結ぶ仮想鉛直面の面上に位置する測距困難な目的観測点POを測定する方法であり、基準点PFを視準した状態から測距測角儀TSを回動して第一観測点P1を視準した後、更に回動して第二観測点P2を視準することにより、該測距測角儀TSに対する第一観測点P1の仮想座標(X1・Y1)と第二観測点P2の仮想座標(X2・Y2)を求め、両観測点P1及びP2の仮想座標(X1・Y1)及び(X2・Y2)を結ぶ仮想線HLを想定する仮想線形成工程と、測距測角儀TSにより目的観測点POを視準することにより、基準点PFから目的観測点POに至るまでの水平角HθOと、目的観測点POを視準したときの目的視準線sOの鉛直角VθO又は斜角VθxOに基づいて、目的観測点POが前記仮想線HLにより規定される仮想鉛直面VSの面上に位置することを条件として、次のデータ(1) 、(2) 、(3) 、(4) 、データ(1) :前記仮想線HLを一辺とする仮想三角形から導かれる三角関数により求められる目的観測点POの水平距離HDO(即ち、測距測角儀TSから、目的観測点POの垂線vOと仮想線HLとの交点により規定される目的水平点pOに至るまでの目的水平線hOの長さ)、データ(2) :前記目的水平線hOと前記目的視準線sOを二辺とする仮想三角形から導かれる三角関数により求められる目的観測点POの斜距離SDO(測距測角儀TSから目的観測点POに至るまでの目的視準線sOの長さ)、データ(3) :目的観測点POの目的比高VDO(目的水平点pOから目的観測点POに至るまでの鉛直距離)、データ(4) :目的観測点POの測量上における座標(XO・YO・ZO)、のうち、少なくとも一つ又は複数のデータを求める目的観測点データ形成工程とから成ることを特徴とする測量における難測定個所の測定方法。
IPC (2件)：
G01C 15/00 103
, G01C 15/00 104
G01C 15/00 103 Z
, G01C 15/00 104 Z
