特許

J-GLOBAL ID：201103027683932000

サンプル中の標的の検出

発明者： アイチェン、ヨアヴ ,  シヴァン、ウリ ,  ブラウン、イレズ
出願人/特許権者： テクニオン リサーチ アンド ディベロップメント ファウンデーション リミテッド ,  アイチェン、ヨアヴ ,  シヴァン、ウリ ,  ブラウン、イレズ
代理人 (4件)： 河村 洌 ,  藤森 洋介 ,  谷 征史 ,  佐木 啓二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-547465
特許番号：特許第4618886号
出願日： 1999年05月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 サンプル中の1つまたはそれ以上の標的を検定するシステムであって、 (a)少なくとも2つの電極、基板、および認識部分からなる1つまたはそれ以上の検定セットを有し、該電極は該基板上に設置され、ギャップによって隔てられ、該認識部分は該ギャップに位置しかつ基板に付着され、該認識部分は標的の1つに特異的に結合する能力を有する検定装置、 (b)各検定セットの少なくとも2つの電極間の電気的コンダクタンスを測定するために配置、設定される電気または電子モジュール、 (c)前記認識部分と前記標的との間に形成される複合体上に導電性物質を沈着させるための薬剤であって;(i)サンプル中に標的が存在する場合に該標的の成分に結合するための核生成-中心形成実体からなる溶液;および(ii)該実体上に導電物質を形成させる、金属イオンと還元剤との組み合わせからなり、該導電物質が複合体上に沈着すると該少なくとも2つの電極間に導電性架橋が形成される薬剤、および (d)1つまたはそれ以上の標的がサンプル中に存在するかどうかを、各検定セットの少なくとも2つの電極間の電気的コンダクタンスの程度として測定するための電子装置 からなるシステム。

IPC (5件)：

G01N 27/04 ( 200 6.01) ,  C12Q 1/68 ( 200 6.01) ,  G01N 27/327 ( 200 6.01) ,  G01N 27/416 ( 200 6.01) ,  G01N 33/553 ( 200 6.01)

FI (5件)：

G01N 27/04 Z ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 27/30 351 ,  G01N 27/46 336 G ,  G01N 33/553

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特許第2551575号
  
• 特許第3447055号
  
• 特許第3310705号
  

引用文献：

審査官引用 (1件)

• DNA-templated assembly and electrode attachment of a conducting silver wire