特許
J-GLOBAL ID:201103028244536463
粒子サイズの分布を測定するための装置及び方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
飯田 伸行
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-234586
公開番号(公開出願番号):特開2000-097841
特許番号:特許第4605838号
出願日: 1999年08月20日
公開日(公表日): 2000年04月07日
請求項(抜粋):
【請求項1】 粒子サイズ分布分析装置であって、
粒子のサンプルを収容するようになされたサンプル測定帯域(16)と、該サンプル測定帯域(16)に入射する光源を提供するようになされた発光手段(2,42)と、検出平面内に配置され、いろいろな異なる散乱角度の光レベルを測定してコンピューティング手段へ信号を出力するようになされており、該サンプル中に含有されている粒子の粒子サイズを測定することを可能にする検出手段(22,40)とから成り、
前記発光手段(2,42)は、実質的に単色の第1波長の光を出射するための第1光源(2)と、実質的に単色の、第1波長とは異なる第2波長の光を出射するための第2光源(42)とから成り、該粒子サイズ分布分析装置の使用において、前記第1光源(2)は、前記サンプル測定帯域に対して第1方向に入射するように光を出射することができるように位置づけされており、前記第2光源(42)は、該サンプル測定帯域に対して第2方向に入射するように光を出射することができるように位置づけされており、該第1方向と第2方向とは、前記検出手段(22,40)が該第1方向及び第2方向に対して実質的に同じ検出角を占めるように、該検出手段(22,40)が配置されている前記検出平面に対して所定の角度φで傾斜した平面内で互いに傾斜した方向であることを特徴とする粒子サイズ分布分析装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (7件)
-
特開昭59-160741
-
特開平2-066425
-
特開平3-006440
-
特開平4-172232
-
光散乱式微粒子検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-032817
出願人:リオン株式会社
-
特開平4-098145
-
特開昭62-293143
全件表示
審査官引用 (14件)
-
特開昭59-160741
-
特開平4-098145
-
特開平2-066425
-
特開平2-066425
-
特開昭62-293143
-
特開昭59-160741
-
特開平3-006440
-
特開平3-006440
-
特開平4-172232
-
特開平4-172232
-
光散乱式微粒子検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-032817
出願人:リオン株式会社
-
特開平4-098145
-
特開平2-066425
-
特開昭62-293143
全件表示
前のページに戻る