テストセル回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：浅村皓 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-378856
公開番号（公開出願番号）：特開2002-236145
特許番号：特許第3529762号
出願日： 1989年09月06日
公開日（公表日）： 2002年08月23日
請求項（抜粋）：

【請求項1】バウンダリスキャンテストセル回路であって、A.データ入力リードと、B.テストデータ入力リードと、C.テストデータ入力リードに結合されたデータ出力リードと、D.テストデータ出力リードと、E.前記データ入力リードに接続された入力、前記テストデータ入力リードに接続された入力、別の入力、及び出力を有する第1のマルチプレクサと、F.前記第1のマルチプレクサの出力に接続された入力と、前記第1のマルチプレクサの別の入力及び前記テストデータ出力リードに接続された出力とを有する第1のメモリと、を有するバウンダリスキャンテスト回路。

IPC (2件)：