特許
J-GLOBAL ID：201103029657561705
熱分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
坂上 正明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-119867
公開番号（公開出願番号）：特開2000-310603
特許番号：特許第3242899号
出願日： 1999年04月27日
公開日（公表日）： 2000年11月07日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料の温度を制御する温度制御手段と、試料の温度又は試料の近傍の温度を検出する温度測定手段と、試料の温度変化または時間に伴って変化する物理量を検出する物理量測定手段と、物理量を温度または時間の関数とした熱分析データ中のベースライン成分及び凸形状ピーク成分または凹形状ピーク成分に分離するベースライン分離手段と、凸形状ピーク成分および凹形状ピーク成分中の重なり合ったピークを複数の基本ピークに分離する基本ピーク分離手段と、ベースライン成分及び基本ピークを合成し出力を行う合成出力手段を有する熱分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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