特許
J-GLOBAL ID:201103030145716152
電気的不均衡を定量化するための装置及びそれを組み込む接触検出システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
辻居 幸一
, 熊倉 禎男
, 大塚 文昭
, 西島 孝喜
, 須田 洋之
, 上杉 浩
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-541860
公開番号(公開出願番号):特表2011-510375
出願日: 2009年01月14日
公開日(公表日): 2011年03月31日
要約:
特に接触検出システムのための第1及び第2の電気経路(R、S;S、VPS)の間の不均衡を検出して定量化するための装置は、それぞれの入力で第1及び第2の経路を受信する比較手段(CC;CD)と、経路の少なくとも一方に接続した可変移送キャパシタンス手段(CPB;CPC)と、比較手段と可変移送キャパシタンス手段の間に接続され、かつ不均衡の補償まで比較手段によって生成される結果(Q)に応じて可変移送キャパシタンス手段の可変移送キャパシタンスを変えるようになった制御ユニット(UC)とを含む。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1及び第2の電気経路(R、S;S、VPS)の間の不均衡を検出して定量化するための装置であって、
それぞれの入力で第1及び第2の電気経路を受信する比較手段(CC;CD)と、
前記経路の少なくとも一方に接続した可変移送キャパシタンス手段(CPB;CPC)と、
-前記比較手段と前記可変移送キャパシタンス手段の間に接続され、かつ前記不均衡の補償まで該比較手段によって生成された結果(Q)に応じて該可変移送キャパシタンス手段の前記可変移送キャパシタンスを変えるようになった制御ユニット(UC)と、
を含むことを特徴とする装置。
IPC (3件):
G06F 3/044
, G06F 3/041
, G01B 7/00
FI (4件):
G06F3/044 E
, G06F3/041 320C
, G06F3/041 330D
, G01B7/00 102C
Fターム (19件):
2F063AA03
, 2F063AA49
, 2F063BA29
, 2F063DA02
, 2F063DA05
, 2F063DB05
, 2F063DD07
, 2F063HA00
, 2F063LA09
, 5B068AA04
, 5B068BB09
, 5B068BC13
, 5B068BE06
, 5B087AA02
, 5B087AC01
, 5B087CC02
, 5B087CC16
, 5B087CC26
, 5B087CC39
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