特許
J-GLOBAL ID:201103030489929767
高周波用半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
紋田 誠
, 逸見 輝雄
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-088072
公開番号(公開出願番号):特開2001-274337
特許番号:特許第3730473号
出願日: 2000年03月28日
公開日(公表日): 2001年10月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】高周波信号を発生する高周波信号発生手段と、
入力される信号を所定の比で分周して出力する分周手段と、
この高周波信号発生手段で発生された高周波信号を外部に導出するための第1外部端子である高周波信号出力端子と、
前記分周手段の入力に接続され、且つ前記高周波信号出力端子と外部で接続可能に設けられた第2外部端子と、
前記分周手段の出力に接続され測定用端子となる第3外部端子とを有し、
前記高周波信号出力端子と前記第2外部端子とを外部で相互接続し、前記分周手段の出力に接続された前記第3外部端子で前記高周波信号発生手段からの出力を測定することを特徴とする高周波用半導体装置。
IPC (4件):
H01L 21/822 ( 200 6.01)
, H01L 27/04 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
, H03L 7/08 ( 200 6.01)
FI (3件):
H01L 27/04 T
, G01R 31/28 U
, H03L 7/08 Z
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開平2-045971
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特開昭59-181548
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特開昭62-023127
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