特許
J-GLOBAL ID:201103030953670895

スペクトル畳み込みに基づく光と物質の相互作用の解析システムおよび方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 矢口 太郎 ,  佐々木 義行 ,  関口 一哉
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-542326
公開番号(公開出願番号):特表2011-509154
出願日: 2009年01月07日
公開日(公表日): 2011年03月24日
要約:
【課題】 スペクトル畳み込みに基づく光と物質の相互作用の解析システムおよび方法を提供する。 【解決手段】 本発明の実施形態において、特異なスペクトル指紋を作成する方法およびアルゴリズムに関する複数のシステムおよび方法は、単一および/または多波長の光物質の相互作用を捕捉したデジタル画像から生成されたRGB色チャネル・スペクトル・プロットの畳み込みに基づく。 【選択図】 なし
請求項(抜粋):
特異なスペクトル標識を作成するために皮膚タイプおよび皮膚特性を決定する方法であって、 入射散乱白色光にて捕えた第1の画像からデータを畳み込む(convoluting)工程であって、前記データは、反射および/または再放射された偏光または白色光に関するものである工程と、 入射偏光にて捕えた第2の画像からデータを畳み込む工程であって、前記データは、反射および/または再放射偏光に関するものである工程と、 前記第1の画像および前記第2の画像からデータを畳み込むことによって生成された少なくとも2つの特異な畳み込みの縁部位置を比較する工程と、 数値的な皮膚タイプ出力を生成するために、前記少なくとも2つの特異な畳み込みから、畳み込まれた(R-B)スペクトルプロットの最小強度位置および最大強度位置の差を判定する工程と を有する方法。
IPC (1件):
A61B 5/00
FI (1件):
A61B5/00 M
Fターム (11件):
4C117XB13 ,  4C117XD05 ,  4C117XE36 ,  4C117XE43 ,  4C117XJ01 ,  4C117XK18 ,  4C117XP01 ,  4C117XP02 ,  4C117XP04 ,  4C117XP06 ,  4C117XP11
引用特許:
審査官引用 (1件)

前のページに戻る