特許
J-GLOBAL ID：201103031221086992
粒子分布計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村上 友一 (外1名)
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願平1-148850
公開番号（公開出願番号）：特開平3-013846
出願日： 1989年06月12日
公開日（公表日）： 1991年01月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】白色のレーザ光を出射するレーザ光源と、被測定領域の周囲に複数配設され、それぞれが前記レーザ光源の出射した白色レーザ光を偏向し、前記被測定領域を横断する方向に向けて出射する偏向装置と、前記被測定領域の周囲に複数配置されて前記偏向装置からの白色レーザを受光し、前記白色レーザ光を赤色、緑色、青色に分光し、それぞれの色に対応した透過光の強度を検出する検出部と、前記各検出部の検出信号を取り込むとともに、前記白色レーザ光の出射光強度を取り込み、各光路における分光波長別の出射光強度を透過光強度の比を算出し、予め設定されている二種の波長の組み合わせにより得られる減衰係数比と粒子径の関係と前記算出強度比により平均粒子径を算出し、前記検出光強度に基づき被測定領域のコンピュータ断層像再生アルゴリズムにより前記前記平均粒子径をもつ被測定領域の断層像を出力するコンピュータと、を有することを特徴とする粒子分布計測装置。
IPC (4件)：
G01N 15/14 Q
, G01N 15/02 A
, G01N 21/17 A 9118-2J
, G01N 21/17 Z 9118-2J
