特許
J-GLOBAL ID：201103031600777056
試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
高橋 英生
, 浅見 保男
, 武山 吉孝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-349986
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165832
特許番号：特許第3749410号
出願日： 1999年12月09日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】振幅が一定で周波数が掃引される正弦波信号が入力され、制御信号に応じてその振幅を制御する自動利得制御部と、
前記自動利得制御部の出力に対し、積分処理を2回実行する積分処理部と、
前記積分処理部の出力を目標負荷信号として、試料に負荷を加える載荷手段と、
前記試料の変位を検出する変位センサと、
前記変位センサの検出出力が前記目標負荷信号に追随するようにフィードバック制御を行うフィードバック制御部と、
前記試料に印加される加速度を検出する加速度センサと、
前記加速度センサの出力の振幅を検出する振幅検出部と、
前記振幅検出部の出力と目標振幅指定値との偏差を検出し、該偏差信号を前記自動利得制御部に前記制御信号として出力する偏差検出部と
を有することを特徴とする試験装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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