特許
J-GLOBAL ID:201103032418533229

光導波路型SPR現象測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 雨宮 正季
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-355354
公開番号(公開出願番号):特開2002-162346
特許番号:特許第3576093号
出願日: 2000年11月22日
公開日(公表日): 2002年06月07日
請求項(抜粋):
【請求項1】コアと前記コアの周囲に設けられたクラッドとを備え、前記コアは前記クラッドより高い屈折率を有し、前記コアに入射した光を閉じ込めて伝播する光導波路と、前記コアに少なくとも一部が直接接触し、かつ表面プラズモン共鳴現象を起こす金属薄膜であって、前記コアを伝播する光を計測することによって表面プラズモン共鳴現象を測定される試料が接触するように設けられる前記金属薄膜とを備えた光導波路型SPR現象計測チップと、光を入射するための光源と、出射された光を計測するための光計測器と、前記光源と前記光導波路型SPR現象計測チップの光導波路と前記光計測器とを光学接続するための光学接続手段を有する光導波路型SPR現象測定装置において、前記光導波路型SPR現象計測チップが、円板状の基板上に、半径方向に放射状の複数の光導波路と、それぞれの光導波路のコアと接触するような前記金属薄膜とを設け、その中心に45°の角度で逆すり鉢状の皿穴を設けるとともに、前記逆すり鉢状の皿穴の裾野に前記光源よりの光を入力し、半径方向に伸びる前記光導波路のコアが光を導光し出射する構造を有し、かつ回転可能な回転台上に設けられており、それぞれの光導波路よりの出射光が前記回転台の回転により前記光計測器でそれぞれ計測可能になっていることを特徴とする光導波路型SPR現象測定装置。
IPC (5件):
G01N 21/27 ,  G01N 21/05 ,  G02B 1/10 ,  G02B 5/18 ,  G02B 6/12
FI (5件):
G01N 21/27 C ,  G01N 21/05 ,  G02B 5/18 ,  G02B 1/10 Z ,  G02B 6/12 Z
引用特許:
審査官引用 (9件)
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