特許

J-GLOBAL ID：201103032573156059

クリアランス放射線測定方法及びクリアランス放射線測定システム

発明者： 長山 位 ,  浅野 隆
出願人/特許権者： 日立GEニュークリア・エナジー株式会社
代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-074140
公開番号（公開出願番号）：特開2011-208958
出願日： 2010年03月29日
公開日（公表日）： 2011年10月20日
要約：

【課題】放射線のバックグランド値の変動が生じる場合において放射能の測定精度を向上できるクリアランス放射線測定方法を提供する。【解決手段】クリアランス対象物である、低圧タービンのローターの分割体1から放出される放射線を放射線検出器11で測定し、併せて、分割体1と放射線検出器10の間の距離を距離センサ11で測定する。放射線検出器10から出力された放射線検出信号及び距離センサ11で測定された距離を入力した演算装置12は、以下の処理を実行する。入力した距離に基づいてBGデータベース15からバックグラウンド補正データを求める(S2)。この補正データを用いて入力した放射線検出信号の計数率を補正する(S3)。S4で求めた、計数率を放射能強度に換算する換算係数、及び補正された計数率に基づいて、放射能強度を算出する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

表面に凹凸形状が存在するクリアランス対象物から放出される放射線を放射線検出器で測定し、この放射線測定時において、前記クリアランス対象物と前記放射線検出器の間の距離を距離測定装置で測定し、測定された前記距離に基づいてバックグラウンド計数率を求め、このバックグラウンド計数率を用いて、前記放射線を測定した前記放射線検出器から出力された放射線検出信号により得られた計数率を補正し、補正された前記計数率を用いて放射能強度を算出することを特徴とするクリアランス放射線測定方法。

IPC (1件)：

G01T 1/167

FI (2件)：

G01T1/167 H ,  G01T1/167 C

Fターム (6件)：

2G088EE06 ,  2G088EE21 ,  2G088GG17 ,  2G088JJ23 ,  2G088LL02 ,  2G088LL06