低干渉光源を利用した流体の流速ベクトル測定システム及び測定方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：田村弘明 , 矢葺知之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-106656
公開番号（公開出願番号）：特開2001-289868
特許番号：特許第3554856号
出願日： 2000年04月07日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光ファイバと光ファイバ結合器を有するマイケルソン型干渉計において、スーパールミネッセントダイオードを低干渉光源とし、該光源よりの光を分岐するファイバ結合器を配置すると共に、光ファイバで連結される複数の光ファイバ結合器を信号経路に使用し、参照光側に複数の集光レンズと反射鏡を配置すると共に、前記参照光側集光レンズと対応する数の集光レンズを設置した測定光側に被測定流体を備え、被測定流体中に原点とx,y,z方向に測定点を配置して集光レンズを通して測定光を被測定流体の流れ方向に垂直に当て、被測定流体からの後方散乱光の干渉信号を検出する光検出器と、干渉信号を用いて原点とx方向、原点とy方向、原点とz方向の3の相関処理を行う信号処理器を備えて3次元流速ベクトルを測定することを特徴とする低干渉光源を利用した流体の流速ベクトル測定システム。

IPC (3件)：

G01P 5/22 , G01F 1/00 , G01F 1/712

FI (3件)：

G01P 5/22 B , G01F 1/00 K , G01F 1/712

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