特許
J-GLOBAL ID：201103035622339830
磁気ディスクの電流飽和特性測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梶山 佶是 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-068767
公開番号（公開出願番号）：特開平2-247813
特許番号：特許第2652883号
出願日： 1989年03月20日
公開日（公表日）： 1990年10月03日
請求項（抜粋）：
【請求項1】磁気ディスクテスターにおいて、磁気ディスクのインデックス信号間のトラックの1周に対して、一定の周波数を有し振幅が該磁気ディスクの一定間隔の回転角度ごとに一定の大きさづつ段階的に増加しかつその最大増加量が前記磁気ディスクの記録が飽和する点よりもさらに大きいところまでの書き込み電流により、テスト信号を書き込み、この書き込まれたテスト信号を読み出して該読み出された該テスト信号のエンベロープ信号を検出し、上記一定間隔の回転角度における該エンベロープ信号に対して、予め測定されメモリに記憶された前記一定間隔の回転角度ごとに対応するモジュレーション補正係数を前記一定間隔の回転角度ごとにそれぞれエンベロープ信号値に乗じた前記磁気ディスクの記録についての飽和特性データを得てこの飽和特性データに応じて決定される前記飽和する点を越える適正書き込み電流値を出力することを特徴とする、磁気ディスクの電流飽和特性測定方法。
IPC (2件)：
G11B 5/09 361
, G11B 5/84
G11B 5/09 361 Z
, G11B 5/84 C
