特許
J-GLOBAL ID：201103036774530639
回転子の検査方法及び装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-006772
特許番号：特許第3010167号
出願日： 1999年01月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 未着磁状態の円柱状磁性体と、前記磁性体の両端から突出する一対の回転軸と、前記磁性体に設けられた作動部とを有する回転子を検査する方法において、前記回転子を磁界内に配置させ、前記磁性体の磁化容易軸方向と前記磁界の方向とを一致させた後、前記磁界と直交する方向で且つ前記磁性体の中心軸線を直交する方向に延在する基準軸線に対して、前記作動部の振れ量を測定することを特徴とする回転子の検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H02K 15/02 A
, H02K 11/00 V
