特許
J-GLOBAL ID：201103036834691513

周波数測定装置、周波数測定方法及び周波数測定装置を備える電子機器

発明者：
轟原 正義

轟原 正義 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (2件)： 稲葉 良幸 ,  田中 克郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-243741
公開番号（公開出願番号）：特開2011-089896
出願日： 2009年10月22日
公開日（公表日）： 2011年05月06日
要約：
【課題】短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置においてパターン雑音の影響を低減する。【解決手段】供給される被測定信号の周波数を所定のサンプリング信号で計測して計数値列を得てこれにフィルタ処理を施して周波数に対応した計数値出力を出力する短ゲートタイムカウント方式の第1及び第2周波数測定装置C1,C2と、サンプリング信号を複数のサンプリング周波数のいずれかに設定する信号発生部140と、選択部50と、予め被測定信号の測定周波数とパターン雑音が発生する雑音発生周波数との関係を複数のサンプリング周波数について保持する保持部130と、制御部100と、を備える。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
供給される被測定信号の周波数を所定のサンプリング信号で計測して計数値列を得て前記計数値列にフィルタ処理を施して前記周波数に対応した計数値出力を出力する短ゲートタイムカウント方式の第1周波数測定装置及び第2周波数測定装置と、 指令信号に応じて前記第1周波数測定装置及び前記第2周波数測定装置の各々のサンプリング信号を複数のサンプリング周波数のいずれかに設定する信号発生部と、 指令信号に応じて前記第1周波数測定装置及び前記第2周波数測定装置の各々の出力のうちいずれかを選択して計数値出力とする選択部と、 予め測定周波数とパターン雑音が発生する雑音発生周波数との関係を前記複数のサンプリング周波数の各々について保持する保持部と、 前記第1周波数測定装置に第1サンプリング周波数を設定して前記選択部に前記第1周波数測定装置の出力を選択させ、前記第2周波数測定装置に前記第1サンプリング周波数の第1雑音発生周波数では雑音が発生しない第2サンプリング周波数を設定し、前記第1周波数測定装置における測定周波数が前記第1雑音発生周波数に接近したときに前記第2周波数測定装置の出力の選択を前記選択部に指令し、前記第1周波数測定装置に前記第2サンプリング周波数の第2雑音発生周波数では雑音が発生しない前記第1サンプリング周波数又は第3サンプリング周波数を設定する、制御部と、 を備える周波数測定装置。
IPC (1件)：
G01R 23/15
FI (1件)：
G01R23/15 E
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (6件)
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