特許
J-GLOBAL ID：201103037302192116
トランスミッションの試験装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
的場 基憲
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-350050
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165282
特許番号：特許第3567456号
出願日： 1999年12月09日
公開日（公表日）： 2001年06月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】ハウジングの開口部内側に入力軸を備えたトランスミッションを支持する支持装置と、開口部を有し且つ支持装置で支持したトランスミッションのハウジングの開口端面を当接させる取付けヘッドと、支持装置および取付けヘッドで位置決めしたトランスミッションの入力軸に対して取付けヘッドの開口部を通して連結して同入力軸を回転駆動する回転駆動装置を備え、支持装置が、トランスミッションを入力軸回りに回動させる角度調整手段を備えていると共に、取付けヘッドが、ハウジングの開口端面のロケート穴と係脱するロケートピンと、ロケートピンが着脱可能な複数のピン取付け部を備えており、 ピン取付け部は、複数種類のトランスミッションのロケート穴の位置に合わせて配置してあると共に、少なくとも2種類のトランスミッションで入力軸回り方向に位置がずれているロケート穴に対しては、そのうちの1つのロケート穴に対応する位置に設けてあり、角度調整手段は、支持装置において位置決めしたトランスミッションのロケート穴とピン取付け部に装着したロケートピンとの位置に入力軸回り方向のずれがある場合に、そのずれの分だけトランスミッションを入力軸回りに回動させる手段であることを特徴とするトランスミッションの試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
前のページに戻る
