特許
J-GLOBAL ID：201103037387112019
透磁率測定装置および透磁率測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-362385
公開番号（公開出願番号）：特開2002-168931
特許番号：特許第3338698号
出願日： 2000年11月29日
公開日（公表日）： 2002年06月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 柱状で導電性を有する磁性体における長さ方向に沿って断面積がほぼ均一な2点間の直流抵抗を測定可能な直流抵抗計と、所定の角周波数の交流を供給して前記2点間の交流抵抗を測定可能な交流抵抗計と、前記磁性体の透磁率を演算する演算部とを備え、当該演算部は、等価的に、前記測定した直流抵抗に前記断面積を乗算した値で前記2点間の距離を除算して前記磁性体の導電率を演算すると共に、前記直流抵抗に前記断面積を乗算した乗算値を前記測定した交流抵抗に前記断面の外周長を乗算した乗算値で除算した値の二乗値と、前記導電率と、前記角周波数とを互いに乗算した乗算値で値2を除算して前記磁性体の透磁率を演算することを特徴とする透磁率測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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