特許
J-GLOBAL ID：201103037471736222
分光分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修一郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-007471
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206037
特許番号：特許第3992390号
出願日： 1999年01月14日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】光源からの測定用光を試料に照射し、試料からの反射光又は透過光である検出光を分光して、検出光の分光スペクトルを得、その検出光の分光スペクトルを、並置した複数の受光素子にて波長毎に同時に受光し、それら受光素子の受光情報に基づいて、試料に含まれる成分を分析する分光分析方法であって、
透過光量が互いに異なる複数のリファレンスフィルタを用意し、
予め、基準リファレンス情報として、前記受光素子夫々について、前記リファレンスフィルタ毎に、前記光源からの測定用光が前記リファレンスフィルタを透過したリファレンス光の分光スペクトルの受光情報を得ると共に、その基準リファレンス情報を記憶しておき、
測定のときは、前記受光素子夫々について、前記リファレンスフィルタ毎に、前記リファレンス光の分光スペクトルの受光情報を測定リファレンス情報として得て、
前記受光素子夫々についての、前記リファレンスフィルタ毎の前記基準リファレンス情報、前記リファレンスフィルタ毎の前記測定リファレンス情報、及び、試料からの検出光のスペクトルの受光情報に基づいて、試料の成分を求める分光分析方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 B
, G01N 21/27 F
