特許
J-GLOBAL ID：201103038831647486
測距装置および測距方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
稲本 義雄
, 西川 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-170776
公開番号（公開出願番号）：特開2011-027451
出願日： 2009年07月22日
公開日（公表日）： 2011年02月10日
要約：
【課題】被測定物までの距離の測定結果のバラツキを抑制する。【解決手段】測定制御部71は、複数の光出力レベルの測定光を用いて、各光出力レベル毎に被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行するように、測距装置1の各部を制御する。統計処理部83は、所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定のサンプリング周期毎の値が所定の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成する。選択部72は、各光出力レベルに対する度数分布の中から、被測定物までの距離の演算に用いる度数分布を選択する。演算部73は、選択された度数分布を用いて、被測定物までの距離を演算する。本発明は、例えば、被測定物までの距離を測定する測距装置に適用できる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
被測定物に向かってパルス状の測定光を発射し、その反射光を受光するまでの時間に基づいて前記被測定物までの距離を測定する測距装置において、
複数の光出力レベルの前記測定光を用いて、各光出力レベル毎に前記被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行するように制御する測定制御手段と、
前記所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定の時間毎の値が所定の第1の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成する作成手段と、
各光出力レベルに対する前記度数分布の中から、前記被測定物までの距離の演算に用いる前記度数分布を選択する選択手段と、
選択された前記度数分布を用いて、前記被測定物までの距離を演算する演算手段と
を含む測距装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01S17/10
, G01C3/06 120Q
2F112AD01
, 2F112BA06
, 2F112DA25
, 2F112FA03
, 2F112FA08
, 2F112FA14
, 2F112FA19
, 2F112FA41
, 2F112FA45
, 2F112GA05
, 5J084AA05
, 5J084AB17
, 5J084AC08
, 5J084AD01
, 5J084BA04
, 5J084BA36
, 5J084BB02
, 5J084CA03
, 5J084CA31
, 5J084CA32
, 5J084CA34
, 5J084CA53
, 5J084CA70
, 5J084EA02
, 5J084EA21
, 5J084EA33
