特許
J-GLOBAL ID：201103038905255178
超音波探傷方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久門 知 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-169488
公開番号（公開出願番号）：特開2001-004602
特許番号：特許第3478178号
出願日： 1999年06月16日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 高周波の集束型超音波探触子を用いて探傷することにより被検査材内部に存在する欠陥を検出すると共に、その欠陥の種類を判別する超音波探傷方法において、大きな振動子径と小さな振動子径の2種類の探触子で探傷を行い、大きな振動子径の探触子と小さな振動子径の探触子の両方で検出した欠陥を気泡とし、大きな振動子径の探触子で検出でき、小さな振動子径の探触子で検出できなかった欠陥を介在物とすることを特徴とする超音波探傷方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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