特許

J-GLOBAL ID：201103040949176814

角層厚の計測方法

発明者： 清水 教男 ,  中川 典昭
出願人/特許権者： 花王株式会社
代理人 (6件)： 特許業務法人アルガ特許事務所 ,  有賀 三幸 ,  高野 登志雄 ,  中嶋 俊夫 ,  村田 正樹 ,  山本 博人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-168429
公開番号（公開出願番号）：特開2011-019785
出願日： 2009年07月17日
公開日（公表日）： 2011年02月03日
要約：

【課題】ラマン分光により角層と表皮細胞でのラマンスペクトルの違いに着目した非侵襲的な角層厚計測に関する方法を提供する。【解決手段】角層厚の計測方法であって、皮膚表面から皮膚深部方向に向けて、測定深度を変えながら、ラマン分光によりスペクトルを測定し、該スペクトル中の角層に特異的なピークを指標とし、該ピークが消失するときのスペクトル測定深度を角層厚として決定する、角層厚の計測方法。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

角層厚の計測方法であって、 皮膚表面から皮膚深部方向に向けて、測定深度を変えながら、ラマン分光によりスペクトルを測定し、 該スペクトル中の角層に特異的なピークを指標とし、該ピークが消失するときのスペクトル測定深度を角層厚として決定する、角層厚の計測方法。

IPC (2件)：

A61B 5/00 ,  G01N 21/65

FI (2件)：

A61B5/00 M ,  G01N21/65

Fターム (13件)：

2G043AA06 ,  2G043BA16 ,  2G043EA03 ,  2G043JA01 ,  2G043KA01 ,  2G043KA05 ,  4C117XA02 ,  4C117XB01 ,  4C117XB13 ,  4C117XD05 ,  4C117XD13 ,  4C117XD14 ,  4C117XE36