特許

J-GLOBAL ID：201103040983659581

被試験ICの応答出力信号読取方法及びこの読取方法を用いたIC試験装置

発明者： 酒井 秀男
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (4件)： 中尾 直樹 ,  中村 幸雄 ,  草野 卓 ,  稲垣 稔
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-100884
公開番号（公開出願番号）：特開2001-289906
特許番号：特許第4291493号
出願日： 2000年04月03日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 被試験ICの応答出力信号を信号伝送線路を通じてIC試験装置のコンパレータに取込み、その取込まれた信号を第1比較電圧及び第2比較電圧と上記コンパレータで比較して得られた論理値と期待値とを論理比較して被試験ICの良否を判定するIC試験方法において、 上記コンパレータの入力側に上記被試験ICが出力する応答出力信号に対応するタイミングで上記第1比較電圧よりも低く第2比較電圧よりも高い電圧を具備した振幅制限期待値信号を印加し、上記コンパレータで上記取込まれた信号と上記振幅制限期待値信号との加算値を上記比較電圧と比較して得られた論理値を求め、得られた論理値を上記期待値と比較してその比較結果を良否判定信号として読み込むことを特徴とする被試験ICの応答出力信号読取方法。

IPC (1件)：

G01R 31/28 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01R 31/28 H

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 半導体試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-191311   出願人：三菱電機株式会社