特許
J-GLOBAL ID:201103041405129436

位相シフトマスク及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小島 隆司 ,  西川 裕子
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-139597
公開番号(公開出願番号):特開2000-330256
特許番号:特許第4143785号
出願日: 1999年05月20日
公開日(公表日): 2000年11月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】露光光が透過する基板上に第2光透過部の位相シフターを形成してなる位相シフトマスクにおいて、上記位相シフターをガドリニウム・ガリウム・ガーネットにて形成したことを特徴とする位相シフトマスク。
IPC (2件):
G03F 1/08 ( 200 6.01) ,  C23C 14/34 ( 200 6.01)
FI (3件):
G03F 1/08 A ,  C23C 14/34 A ,  C23C 14/34 M

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