凹凸検出装置及び方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西村教光
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-264062
公開番号（公開出願番号）：特開2001-091216
特許番号：特許第3618599号
出願日： 1999年09月17日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】対象物上の凹凸を画像データに基づき検出する凹凸検出装置において、対象物上の凹凸の配置に対応する座標位置が予め設定された座標設定手段と、凹凸を検出するために、両端の画素が対象物の表面上と凹凸表面上にそれぞれ位置する所定画素分の行列サイズを設定する行列サイズ設定手段と、各画素が対象物上の凹凸の高さデータを含む画像データの入力に基づき、前記画像データのうち各凹凸の座標位置に対し前記設定された行列サイズで順次走査する走査手段と、前記各凹凸の座標位置を走査した都度、前記設定された行列サイズに基づき、前記両端の画素の各高さデータに基づき凹凸の絶対高さを演算する微分演算手段と、を備えたことを特徴とする凹凸検出装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 , G01B 11/02 , G01N 21/956

FI (3件)：

G01B 11/00 H , G01B 11/02 H , G01N 21/956 B

引用特許：

出願人引用 (2件)

バンプ検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-276609 出願人：日立電子株式会社
三次元形状識別方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-207758 出願人：住友電気工業株式会社

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