はんだ付検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-302710
公開番号（公開出願番号）：特開平3-162611
特許番号：特許第2819696号
出願日： 1989年11月20日
公開日（公表日）： 1991年07月12日
請求項（抜粋）：

【請求項1】検査対象部品に斜め上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像を二値化画像に変換する二値化回路と、第一の検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に記憶されている第一の検査領域を発生させる第一のウィンドウ発生回路と、該第一のウィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内二値化画像より、検査対象部品の位置ずれ量を求める位置ずれ量検出回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域記憶回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された位置ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記憶されている第二の検査領域の座標を補正して、前記カメラから取り込んだ濃淡画像に補正した第二の検査領域を発生させる第二のウィンドウ発生回路と、該第二のウィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内濃淡画像の濃淡値を総和を求める加算回路と、該加算回路から出力される加算値より検査結果を判定する判定回路とを含むことを特徴とするはんだ付け検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 , G01N 21/88 , H05K 3/34 512

FI (3件)：

G01B 11/24 K , G01N 21/88 F , H05K 3/34 512 B

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