特許

J-GLOBAL ID：201103042610971308

半導体装置、及びその診断方法

発明者： 澤井 康則
出願人/特許権者： ルネサスエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-025153
公開番号（公開出願番号）：特開2011-163842
出願日： 2010年02月08日
公開日（公表日）： 2011年08月25日
要約：

【課題】適切に診断することができる半導体装置、及びその診断方法を提供すること。【解決手段】本発明に係る半導体装置は、自己診断の対象となるテストターゲット回路19と、テストターゲット回路19に対して自己診断用のクロックを出力するPLL回路18と、テストターゲット回路19の動作スピード限界に対応するクロック周波数を記憶する診断用レジスタ16と、診断用レジスタ16に記憶されたクロック周波数に基づいて、自己診断時にPLL回路18から出力されるクロックの周波数を設定する制御回路14と、を備えるものである。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

自己診断の対象となるターゲット回路と 前記ターゲット回路に対して自己診断用のクロックを出力するクロック回路と、 前記ターゲット回路の動作スピード限界に対応するクロック周波数を記憶する記憶部と、 前記記憶部に記憶された前記クロック周波数に基づいて、自己診断時に前記クロック回路から出力されるクロックの周波数を設定する制御部と、を備える半導体装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (2件)：

G01R31/28 V ,  H01L27/04 T

Fターム (18件)：

2G132AA01 ,  2G132AB01 ,  2G132AB07 ,  2G132AD06 ,  2G132AK13 ,  2G132AK29 ,  2G132AL11 ,  5F038CD06 ,  5F038DF01 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DT02 ,  5F038DT03 ,  5F038DT07 ,  5F038DT08 ,  5F038DT15 ,  5F038DT17 ,  5F038EZ20