特許
J-GLOBAL ID：201103042811946298
蛍光顕微鏡装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (5件)：
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-109527
公開番号（公開出願番号）：特開2011-180570
出願日： 2010年05月11日
公開日（公表日）： 2011年09月15日
要約：
【課題】目的とする蛍光を選択的に視野観察することが可能な蛍光顕微鏡装置を提供する。【解決手段】磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体1を含む試料16に励起光を照射し、蛍光体1の蛍光を観察する光学顕微鏡3と、電子スピン磁気共鳴を発生させる高周波磁場を試料16に照射する高周波磁場発生部5と、高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部7と、高周波磁場を変調しながら光学顕微鏡3で観察した試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれでサンプリング時間毎に検出する検出器9と、複数の画素の中から光強度の時系列変動が変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニット10とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体を含む試料に励起光を照射し、前記蛍光体の蛍光を観察する光学顕微鏡と、
前記磁気共鳴を発生させる高周波磁場を前記試料に照射する高周波磁場発生部と、
前記高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部と、
前記高周波磁場を変調しながら前記光学顕微鏡で観察した前記試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれの位置でサンプリング時間毎に検出する検出器と、
前記複数の画素の中から前記光強度の時系列変動が前記変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニット
とを備えることを特徴とする蛍光顕微鏡装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G02B21/06
, G01N21/64 E
, G01N21/64 F
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043GA07
, 2G043GB13
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2H052AA09
, 2H052AB14
, 2H052AC04
, 2H052AD31
, 2H052AF02
, 2H052AF25
