特許

J-GLOBAL ID：201103042849747973

プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法

発明者： ハンドロス,イゴー,ワイ ,  マシュー,ゲータン,エル ,  エルドリッジ,ベンジャミン,エヌ ,  グルーブ,ゲーリー,ダヴリュー
出願人/特許権者： フォームファクター, インコーポレイテッド
代理人 (6件)： 稲葉 良幸 ,  田中 克郎 ,  大賀 眞司 ,  古谷 馨 ,  溝部 孝彦 ,  古谷 聡
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-229866
公開番号（公開出願番号）：特開2000-067953
特許番号：特許第4160693号
出願日： 1999年08月16日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 プローブカード・アセンブリ用の間隔変換器において、 複数の第1接触端子を配設した上部表面及び複数の第2接触端子を配設した下部表面を有する基板と、 前記複数の第1接触端子に直接実装され、前記基板の前記上部表面から上方に延伸した接触端部を有する複数の復元性のある自立接触構造と、を備え、 前記複数の第1接触端子と前記複数の第2接触端子は、前記基板の内部に配設された配線を介して、電気的に接続され、前記複数の第1接触端子の少なくともいくつかは、前記複数の第2接触端子の少なくともいくつかに対して異なった間隔で配置されてなる、間隔変換器。

IPC (7件)：

H01R 12/16 ( 200 6.01) ,  G01R 1/06 ( 200 6.01) ,  G01R 31/28 ( 200 6.01) ,  H01L 21/66 ( 200 6.01) ,  H01R 13/05 ( 200 6.01) ,  H01R 33/74 ( 200 6.01) ,  H01R 107/00 ( 200 6.01)

FI (7件)：

H01R 23/68 303 E ,  G01R 1/06 A ,  G01R 31/28 K ,  H01L 21/66 B ,  H01R 13/05 A ,  H01R 33/74 B ,  H01R 107:00

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 半導体検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-178179   出願人：三菱電機株式会社
• 回路基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-085726   出願人：日本合成ゴム株式会社
• 特開平3-183974
  
• 特開平1-123157
  

審査官引用 (4件)

• 半導体検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-178179   出願人：三菱電機株式会社
• 回路基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-085726   出願人：日本合成ゴム株式会社
• 特開平3-183974
  
• 特開平1-123157