特許

J-GLOBAL ID：201103043582791974

材料劣化診断装置及び方法

発明者： 佐々木 恵 一 ,  高 橋 雅 士 ,  山 家 信 雄 ,  朝 倉 大 輔
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (5件)： 吉武 賢次 ,  佐藤 泰和 ,  吉元 弘 ,  川崎 康 ,  重野 隆之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-152683
公開番号（公開出願番号）：特開2011-007689
出願日： 2009年06月26日
公開日（公表日）： 2011年01月13日
要約：

【課題】超音波光プローブを用いた材料の劣化診断に対する耐熱性や耐久性等の信頼性を長期に渡って向上させる。【解決手段】超音波光プローブを配管8の表面に取り付ける方法は、まず、光ファイバ21が貼着された圧着膜の金属箔22を配管8表面にスポット溶接により接合する。そして、光ファイバ21上に電気コイル12及び永久磁石11を順に配置する。永久磁石11は磁力によって金属8に固定され、電気コイル12は永久磁石11と光ファイバ21との間に挟まれて固定されるが、位置ずれを防ぐために接着剤などで固定してもよい。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

スポット溶接により金属製材料の表面に接合された金属箔及び前記金属箔に圧着された樹脂シートを含む圧着膜と、 前記圧着膜に貼着され、光源から光が入力される光ファイバと、 前記光ファイバ上に設けられ、前記金属製材料中に振動を与える発振子と、 前記金属製材料中の振動に応じた前記光ファイバを透過する光の変動を電気信号に変換する光干渉計と、 前記電気信号に基づいて前記金属製材料の厚さを算出し、前記金属製材料の劣化度を判定する計測・制御部と、 を備える材料劣化診断装置。

IPC (4件)：

G01N 29/04 ,  G01N 29/12 ,  G01N 29/24 ,  G21C 17/003

FI (5件)：

G01N29/10 507 ,  G01N29/04 504 ,  G01N29/12 ,  G01N29/24 ,  G21C17/00 E

Fターム (20件)：

2G047AC01 ,  2G047BA04 ,  2G047BC04 ,  2G047BC11 ,  2G047BC18 ,  2G047CA02 ,  2G047CA04 ,  2G047CA07 ,  2G047EA11 ,  2G047GA02 ,  2G047GA03 ,  2G047GA21 ,  2G047GD01 ,  2G047GF05 ,  2G047GF11 ,  2G047GG24 ,  2G075CA05 ,  2G075DA15 ,  2G075FA02 ,  2G075FB03