特許

J-GLOBAL ID：201103043618590431

分析装置,オートフォーカス装置、及びオートフォーカス方法

発明者： 前川 彰 ,  板橋 直志 ,  奈良原 正俊 ,  高橋 智
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-253579
公開番号（公開出願番号）：特開2011-099720
出願日： 2009年11月05日
公開日（公表日）： 2011年05月19日
要約：

【課題】本発明の目的は、コントラスト検出方式オートフォーカスでのフォーカスずれ方向検出に関する。【解決手段】本発明の手法は、観察対象の近傍に高さが異なる複数の構造体、あるいは掘り込みを配置し、それら各々のフォーカス評価値をそれぞれ算出する。これらのフォーカス評価値の差異により、フォーカスずれ方向を識別する。フォーカスずれ方向が判別できることにより、像を喪失することなく観察対象を観察し続けることができる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光透過性基板上で塩基伸長反応させ、取り込まれた蛍光色素の蛍光をエバネッセント場を利用して観察する分析装置であって、 光透過性基板へ励起光を全反射照射する照射機構と、 塩基伸長反応で取り込まれた蛍光色素を撮影する撮影機構とを有し、 光透過性基板上には、撮影機構との垂直方向の距離が反応界面とは異なる位置に、励起光を照射すると蛍光を発するターゲット部材を備え、 少なくともターゲット部材から得られるフォーカス評価値を基に少なくともフォーカスずれ方向を検出し、光透過性基板と照射機構との距離を変更することを特徴とする、分析装置。

IPC (7件)：

G01N 21/64 ,  G01N 33/543 ,  G01N 21/78 ,  C12M 1/00 ,  C12Q 1/68 ,  G02B 7/36 ,  G02B 7/28

FI (8件)：

G01N21/64 G ,  G01N33/543 595 ,  G01N21/64 F ,  G01N21/78 C ,  C12M1/00 A ,  C12Q1/68 Z ,  G02B7/11 D ,  G02B7/11 H

Fターム (62件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043MA16 ,  2G054AA06 ,  2G054AB07 ,  2G054CA22 ,  2G054CD04 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054EA05 ,  2G054FA12 ,  2G054FA17 ,  2G054FA18 ,  2G054FA19 ,  2G054FA20 ,  2G054FA32 ,  2G054FA33 ,  2G054FB02 ,  2G054FB03 ,  2G054GA05 ,  2G054GB10 ,  2H051BA47 ,  2H051BA70 ,  2H051CC03 ,  2H151BA47 ,  2H151BA70 ,  2H151CC03 ,  4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA12 ,  4B024HA12 ,  4B024HA20 ,  4B029AA07 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029CC02 ,  4B029FA01 ,  4B029FA09 ,  4B029FA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QA19 ,  4B063QQ43 ,  4B063QQ53 ,  4B063QR32 ,  4B063QR55 ,  4B063QR62 ,  4B063QS34 ,  4B063QX02