特許

J-GLOBAL ID：201103043663270359

赤外線分析装置

発明者： 市沢 康史 ,  後藤 久美子
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-110074
公開番号（公開出願番号）：特開2011-237317
出願日： 2010年05月12日
公開日（公表日）： 2011年11月24日
要約：

【課題】拡散性を抑制する光学系を用いて低水分から高水分にわたって高精度の測定が可能な水分計を提供する。【解決手段】光源から出射した光を斜め方向から被測定物に照射し、該被測定物を透過した透過光をなだらかな曲率を有するミラーで反射させて集束し、再度前記被測定物を透過させて赤外線に感度のある検出器に入射させるように構成した。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源から出射した光を斜め方向から被測定物に照射し、該被測定物を透過した透過光をなだらかな曲率を有するミラーで反射させて集束し、再度前記被測定物を透過させて赤外線に感度のある検出器に入射させるように構成したことを特徴とする赤外線分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01B 11/02

FI (2件)：

G01N21/35 Z ,  G01B11/02 Z

Fターム (23件)：

2F065AA30 ,  2F065CC02 ,  2F065DD02 ,  2F065GG07 ,  2F065GG12 ,  2F065GG21 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL19 ,  2F065MM03 ,  2F065MM07 ,  2G059AA01 ,  2G059BB10 ,  2G059CC09 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059KK01 ,  2G059KK10