特許
J-GLOBAL ID:201103043782208114

3次元形状寸法計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平1-326268
公開番号(公開出願番号):特開平3-186706
特許番号:特許第2572286号
出願日: 1989年12月15日
公開日(公表日): 1991年08月14日
請求項(抜粋):
【請求項1】少なくとも高さ方向に形状変化を有する対象物と対向し、該対象物表面に向けて一定角度でスリット光源より投射されたスリット光により前記対象物表面上に生じた光切断線をTVカメラにより撮像する撮像部と、前記TVカメラからの光切断線像の各走査線に対応した強度分布の重心位置に基づく三角測量により検出された対象物表面の隣合う走査線に対応した3次元座標値を計算する座標演算部と、該3次元座標値の高さ方向の変化率にもとづき形状変化の始まる開始点を決定する開始点決定部と、前記開始点によって特定される領域における前記形状変化を前記検出された対象物表面の3次元座標値の変化に対応する関数で近似する表面形状近似部と、前記近似関数に基づき特定領域における対象物の有する形状変化部を少なくとも1つの特徴点として抽出する特徴点抽出部と、前記抽出された特徴点間の相対位置関係を計算することにより、対象物の有する隙間および段差を算出する形状変化演算部、からなることを特徴とする3次元形状寸法計測装置。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  G01B 11/14
FI (2件):
G01B 11/24 C ,  G01B 11/14 H
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭57-137801
  • 特開平1-096504

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