特許
J-GLOBAL ID:201103044171704163

シリコン表面の処理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 工業技術院電子技術総合研究所長
公報種別:特許公告
出願番号(国際出願番号):特願平1-081775
公開番号(公開出願番号):特開平2-260531
出願日: 1989年03月31日
公開日(公表日): 1990年10月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】結晶シリコンまたはアモルファス・シリコンであるシリコン試料を減圧非酸化性雰囲気中に保持し;該シリコン試料の表面に、燐の水素化物ないし弗化物、砒素の水素化物ないし弗化物、硼素の水素化物ないし弗化物、シリコンの弗化物の中、いずれか一つを励起したガスを供給する一方;該シリコン試料を、所定の時間にわたる上記励起されたガスの供給中、その表面に上記励起されないガスが凝集、堆積する温度以上ではあるが、該励起されないガスが分解する温度以下の温度に維持すること;を特徴とするシリコン表面の処理方法。
IPC (2件):
H01L 21/3065 ,  H01L 21/203 Z 8719-4M
FI (1件):
H01L 21/302 N
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭62-067826
  • 特開昭55-053414

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