特許

J-GLOBAL ID：201103044351189356

光線路測定装置及び光線路測定方法

発明者： ファン・シンユー ,  伊藤 文彦
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (6件)： 蔵田 昌俊 ,  河野 哲 ,  小出 俊實 ,  石川 義雄 ,  峰 隆司 ,  野河 信久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-019315
公開番号（公開出願番号）：特開2011-158330
出願日： 2010年01月29日
公開日（公表日）： 2011年08月18日
要約：

【課題】非常に小さな半径で曲げても曲げ損失が出ないHAF等の新種類の光ファイバに対しても曲げ部を遠隔から検出することが可能な光線路測定装置及び光線路測定方法を提供する。【解決手段】レーザ光源からの出力光の偏波状態を偏波制御機能装置13により変化させ、変化後の出力信号を被測定光線路20へ出力する。光線路測定装置10は、被測定光線路20からの後方散乱光を受け取り、光周波数リフレクトメトリ測定方法(OFDR)を使用してSOP分布情報を測定する。そして、このSOP分布情報に基づいて被測定光線路20における複屈折率分布を算出する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光線路の曲げ部を検出する光線路測定装置において、 周波数を線形的に掃引したレーザ光を前記光線路へ出力するレーザ光源と、 前記レーザ光が前記光線路で散乱されて返ってきた後方散乱光におけるp波を検出するp波検出部と、 前記後方散乱光におけるs波を検出するs波検出部と、 前記p波と前記s波とに基づいて、前記光線路の曲げにより生じた複屈折率分布を測定することで、前記光線路の曲げ部を検出する信号処理部と を具備することを特徴とする光線路測定装置。

IPC (1件)：

G01M 11/00

FI (1件)：

G01M11/00 R

Fターム (3件)：

2G086CC01 ,  2G086CC04 ,  2G086CC07