特許

J-GLOBAL ID：201103044370957461

照合検査装置および照合検査方法

発明者： 川上 崇
出願人/特許権者： パナソニック株式会社
代理人 (3件)： 阿部 伸一 ,  清水 善廣 ,  辻田 幸史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-292605
公開番号（公開出願番号）：特開2011-134079
出願日： 2009年12月24日
公開日（公表日）： 2011年07月07日
要約：

【課題】照合作業を容易にすると共に、監査と照合とを同時に実行可能な照合検査装置を提供する。さらに、照合先の物品と照合元の注文票等との直接の照合を実現できる照合検査装置を提供する。【解決手段】本発明の照合検査装置は、特定の視野を撮像し画像データを出力する撮像装置105と、照合先300を特定するための照合先データを前記画像データから取得する照合先データ取得手段と、照合元200を特定するための照合元データを前記画像データから取得する照合元データ取得手段と、前記照合先データと前記照合元データとを比較照合し比較照合結果を出力する比較照合手段と、前記照合結果を前記特定の視野に重ねて表示する映像表示装置102とを備えたものである。【選択図】 図4

請求項（抜粋）：

特定の視野を撮像し画像データを出力する撮像装置と、 照合先を特定するための照合先データを前記画像データから取得する照合先データ取得手段と、 照合元を特定するための照合元データを前記画像データから取得する照合元データ取得手段と、 前記照合先データと前記照合元データとを比較照合し比較照合結果を出力する比較照合手段と、 前記比較照合結果を前記特定の視野に重ねて表示する映像表示装置、 とを備えた照合検査装置。

IPC (3件)：

G06T 1/00 ,  G06Q 50/00 ,  G06K 7/00

FI (4件)：

G06T1/00 280 ,  G06F17/60 126N ,  G06T1/00 400B ,  G06K7/00 U

Fターム (20件)：

5B047AA17 ,  5B047BA03 ,  5B047BB04 ,  5B047CA23 ,  5B047CB21 ,  5B047CB22 ,  5B057AA07 ,  5B057AA20 ,  5B057CE08 ,  5B057DA02 ,  5B057DA13 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DC09 ,  5B057DC36 ,  5B072AA02 ,  5B072AA08 ,  5B072BB00 ,  5B072CC17 ,  5B072CC24