特許
J-GLOBAL ID：201103044654910821
ペルチエ素子を用いた温度測定法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村田 紀子
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-253729
公開番号（公開出願番号）：特開平2-122226
特許番号：特許第2732307号
出願日： 1989年09月27日
公開日（公表日）： 1990年05月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】ペルチエ素子の2面間の温度差の関数として表された、ゼーベック起電力(Up)に対する既知の関係式から、前記ペルチエ素子の2面間の温度差(dT)を計算することを含むペルチエ素子の一方の面または両面の温度を測定する方法において、前記素子の内部抵抗(Ri)の温度依存性に対する既知の関係式から前記素子の平均温度(Ti)を計算した後、前記平均温度(Ti)に、それぞれ前記素子の2両間の温度差(dT)の1/2を加えてそして減じることを特徴とするペルチエ素子の一方の面または両面の温度を測定する方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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