特許

J-GLOBAL ID：201103044657311350

太陽電池の検査装置、太陽電池の検査方法およびプログラム

発明者： 森尾 吉成 ,  石川 誠 ,  高橋 潤一 ,  後藤 正宏
出願人/特許権者： 国立大学法人三重大学 ,  日清紡メカトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人はるか国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-290557
公開番号（公開出願番号）：特開2011-134764
出願日： 2009年12月22日
公開日（公表日）： 2011年07月07日
要約：

【課題】太陽電池セル内の帯状の欠陥の位置を特定することが可能な太陽電池の検査装置を提供する。【解決手段】本発明の太陽電池の検査装置は、通電された状態の太陽電池セルを表すセル画像に探索窓43を適用して、太陽電池セル内の帯状の欠陥の位置を特定する欠陥位置特定手段を備える。探索窓43は、帯状の第1の領域40aと、第1の領域40aにより二分される第2の領域40bと、を含む。欠陥位置特定手段は、探索窓43がセル画像内に定められたときの第1の領域40a内の明度と第2の領域40b内の明度とに基づいて、第1の領域40aと同じ方向に延伸する帯状の欠陥の位置を特定する。【選択図】図14

請求項（抜粋）：

通電された状態の太陽電池セルを表すセル画像を取得するセル画像取得手段と、 前記セル画像に任意の大きさ及び形状の1つ又は複数の探索窓を適用して、前記太陽電池セル内の帯状の欠陥の位置を特定する欠陥位置特定手段と、 を備え、 前記探索窓は、帯状または多角形の第1の領域と、前記第1の領域により二分される第2の領域と、を含み、 前記欠陥位置特定手段は、前記探索窓が前記セル画像内に定められたときの前記第1の領域内の明度と前記第2の領域内の明度とに基づいて、前記帯状の欠陥の位置を特定する、 ことを特徴とする太陽電池の検査装置。

IPC (1件)：

H01L 31/04

FI (1件)：

H01L31/04 K

Fターム (4件)：

5F051BA14 ,  5F051KA09 ,  5F151BA14 ,  5F151KA09