抵抗チエックテストプログラム自動生成方法及びその装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：徳丸達雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-044880
公開番号（公開出願番号）：特開2001-235520
特許番号：特許第3540236号
出願日： 2000年02月22日
公開日（公表日）： 2001年08月31日
請求項（抜粋）：

【請求項1】測定対象の半導体集積回路(以下IC)の内部回路のネットリストを含む入力情報を入力し、前記ICの内部の抵抗素子の抵抗値をICテスタにより評価するための抵抗チエックテストプログラムを生成する抵抗チエックテストプログラム自動生成方法において、前記ネットリストに加えて電源端子及び接地端子の情報を用い、検索した前記内部回路の全端子を前記電源端子及び接地端子から成る第1の端子グループと、前記電源端子及び接地端子以外の端子である信号端子から成る第2の端子グループとにグループ分けし、前記第1及び第2の端子グループの各々から選択した任意の1端子づつから成る抵抗検索ルートを設定することにより、共通端子である前記第1の端子グループで抵抗検索ルートを分割し、前記抵抗検索ルートを前記第2の端子グループから前記第1の端子グループの方向へと検索することにより前記抵抗素子の抵抗値を検索することを特徴とする抵抗チエックテストプログラム自動生成方法。

IPC (3件)：

G01R 31/316 , G01R 27/02 , G01R 31/317

FI (3件)：

G01R 31/28 C , G01R 27/02 R , G01R 31/28 A

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