特許
J-GLOBAL ID：201103047769958380

コイン検査方法および装置

発明者：
古矢 米藏

古矢 米藏 について


出願人/特許権者：
株式会社日本コンラックス

株式会社日本コンラックス について


代理人 (1件)： 木村 高久
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-304066
公開番号（公開出願番号）：特開2001-126104
特許番号：特許第3844921号
出願日： 1999年10月26日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の磁極が所定間隔で配列された第1の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第1のコイルおよび第2のコイルを含む第1の励磁コイルと前記第1の磁性体コアの前記第1の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第1の受信コイルとを有する第1の検知コイルと、 複数の磁極が所定間隔で配列された第2の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第3のコイルおよび第4のコイルを含む第2の励磁コイルと前記第2の磁性体コアの前記第2の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第2の受信コイルとを有する第2の検知コイルと を対向して配置し、 前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルにより発生される磁界内に被検査コインを通過させ、 前記被検査コインの通過に際して前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに発生する電気的特性変化に基づき前記被検査コインを判別する ことを特徴とするコイン検査方法。
IPC (1件)：
G07D 5/08 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G07D 5/08 103
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (2件)

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