特許
J-GLOBAL ID:201103047946585572

ICテスタ

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-002972
公開番号(公開出願番号):特開2000-206206
特許番号:特許第3554959号
出願日: 1999年01月08日
公開日(公表日): 2000年07月28日
請求項(抜粋):
【請求項1】被試験対象に試験信号を入力し、このときの被試験対象の出力をもとに被試験対象の良否を判定するICテスタにおいて、被試験対象の出力をA/D変換するA/D変換器と、このA/D変換器の出力を取り込み、良否判定のための信号処理を行う信号処理手段と、前記A/D変換器と信号処理手段との間に介在し、A/D変換器の動作タイミングに応じてA/D変換器の出力を一時記憶し、記憶したデータは信号処理手段の動作タイミングに応じて読み出される記憶手段と、前記記憶手段の読み出しタイミングを与えるストローブ信号を記憶手段の読み出し時間だけ遅延させ、遅延信号を前記信号処理手段にデータ取り込み信号として与える遅延手段と、を具備したことを特徴とするICテスタ。
IPC (2件):
G01R 31/316 ,  G01R 31/28
FI (2件):
G01R 31/28 C ,  G01R 31/28 H
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開平3-138579
審査官引用 (1件)
  • 特開平3-138579

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