特許
J-GLOBAL ID：201103048700031493
画線寸法測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-307054
公開番号（公開出願番号）：特開2001-121803
特許番号：特許第3766904号
出願日： 1999年10月28日
公開日（公表日）： 2001年05月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】製版用フィルム、刷版、印刷物等の表面を計測する測定装置であって、
一定の画線幅を有する画線群からなる2次元画像をその表面に記録又は印刷された測定対象物から前記2次元画像を読み取る光学式画像入力手段(f1)と、前記入力された2次元画像を画線寸法算出に適した画像調整する画像調整手段(f2)と、前記画線寸法算出に適した画像に調整された2次元画像をデジタル2値画像データに変換する画像データ変換手段(f3)と、前記変換されたデジタル2値画像データのうちの画線の連結成分の画像データを改善する連結成分画像データ改善手段(f4〜f6)と、前記改善後の画像データから形状の特徴抽出を数値データとして作成する画像データ形状特徴抽出手段(f7)と、前記形状の特徴抽出の数値データから画線寸法を算出する画線寸法算出手段(f8)と、前記算出された画線寸法を出力する画線寸法出力手段(f9)とからなる画線寸法測定装置。
IPC (5件)：
G01B 11/02 ( 200 6.01)
, G06T 7/60 ( 200 6.01)
, B41M 3/14 ( 200 6.01)
, G03G 21/04 ( 200 6.01)
, G07D 7/00 ( 200 6.01)
G01B 11/02 H
, G06T 7/60 150 J
, B41M 3/14
, G03G 21/00 550
, G07D 7/00 H
