特許

J-GLOBAL ID：201103048916817920

電子ディスプレイの検査方法及びその装置

発明者： 渡貫 明男
出願人/特許権者： 株式会社日立国際電気
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-173085
公開番号（公開出願番号）：特開2001-351094
特許番号：特許第3846840号
出願日： 2000年06月09日
公開日（公表日）： 2001年12月21日
請求項（抜粋）：

【請求項1】電子ディスプレイ表示面を撮像し、得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法において、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画枠を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検査することを特徴とする電子ディスプレイの検査方法。

IPC (5件)：

G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  G09G 3/20 ( 200 6.01) ,  G09G 3/28 ( 200 6.01) ,  H04N 5/66 ( 200 6.01) ,  H04N 17/04 ( 200 6.01)

FI (5件)：

G06T 1/00 300 ,  G09G 3/20 670 Q ,  G09G 3/28 Z ,  H04N 5/66 Z ,  H04N 17/04 Z

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開平3-160310
  
• 特開昭60-083080
  
• 特開昭63-262992