ガス中の水銀分析方法および装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：杉本修司 , 野田雅士
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-205843
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033434
特許番号：特許第4054140号
出願日： 1999年07月21日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
請求項（抜粋）：

【請求項1】塩化第二水銀を含有するガス中の水銀を分析する方法であって、錫の粒子の表面に塩化第一錫の被膜を形成してなる還元剤を用意し、前記還元剤により前記塩化第二水銀中のHg2+をHg0 に還元したのち分析するガス中の水銀分析方法。

IPC (2件)：