特許
J-GLOBAL ID：201103050465512971

テスト装置、及び、テスト方法

発明者：
坂野 明広

坂野 明広 について


出願人/特許権者：
NECエレクトロニクス株式会社

NECエレクトロニクス株式会社 について


代理人 (1件)： 工藤 実
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-035900
公開番号（公開出願番号）：特開2001-229699
特許番号：特許第3555934号
出願日： 2000年02月14日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】タイミング制御されて一方のポートより読み出すリードデータを転送するリード線と、タイミング制御されて他方のポートより書き込むライトデータを転送するライト線とを含み、前記リード線と前記ライト線の配置が隣接している多ポートメモリのテスト方法において、前記多ポートメモリに対し、予め書き込まれたデータを前記リード線に読み出すリードタイミングと、書き込むデータを隣接する前記ライト線に与えるライトタイミングとを相対的に段階的にずらすことにより、前記リード線の上と前記ライト線の上にそれぞれに与えられる前記リードデータと前記ライトデータのそれぞれの伝達タイミングが重なり合う時間幅を段階的に変更し、各段階で前記リード線と前記ライト線のうちで少なくとも一方の信号線の上の信号を期待値と比較することにより、前記リード線と前記ライト線の間の電気的相互作用を検出することを特徴とするテスト方法。
IPC (3件)：
G11C 29/00 ,  G01R 31/28 ,  G06F 12/16
FI (4件)：
G11C 29/00 675 D ,  G11C 29/00 671 B ,  G06F 12/16 330 C ,  G01R 31/28 B
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
  • テスト機能内蔵メモリ集積回路
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-114432   出願人：三菱電機株式会社
  • 特開平1-155600
  • 特開平1-155600
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