特許
J-GLOBAL ID:201103051457533567

測定装置、測定方法、およびプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 末成 幹生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-200923
公開番号(公開出願番号):特開2011-050504
出願日: 2009年08月31日
公開日(公表日): 2011年03月17日
要約:
【課題】複数の測定用端子の位置を測定する時間と誤差を低減する。【解決手段】頭部25に接触または近接させた複数のプローブ13の検出信号に基づいて頭部の血流変化を測定し、かつプローブ9,13の位置を測定する測定装置1は、プローブ9,13の周囲で所定の位置関係に配置された複数の位置マークを有するターゲットと、ターゲットを少なくとも異なる2方向から撮影する撮影部22,23と、撮影画像内で検出した複数の位置マークを、所定の位置関係を利用してプローブごとのグループに分類し、複数の位置マークの三次元座標を計測する三次元座標計測部と、三次元座標計測部で計測した複数の位置マークが含まれる仮想平面をプローブごとに求め、仮想平面に法線を想定し、プローブ9,13の位置P1,P2を法線方向に移動させることによって、プローブ9,13の頭部25表面からの浮き度合いを補正するフロートオフセット補正部と、を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物に接触または近接させた複数の測定用端子の検出信号に基づいて前記対象物の特性を測定し、かつ前記測定用端子の位置を測定する測定装置において、 前記測定用端子の位置を求めるために、前記測定用端子の周囲で所定の位置関係に配置された複数の位置マークを有するターゲットと、 前記ターゲットを少なくとも異なる2方向から撮影する撮影部と、 前記撮影部の撮影画像内で検出した複数の位置マークを、前記所定の位置関係を利用して前記測定用端子ごとのグループに分類し、前記複数の位置マークの三次元座標を計測する三次元座標計測部と、 前記三次元座標計測部で計測した複数の位置マークが含まれる仮想平面を測定用端子ごとに求め、前記仮想平面に法線を想定し、前記測定用端子の位置を前記法線方向に移動させることによって、前記測定用端子の対象物表面からの浮き度合いを補正するフロートオフセット補正部と、 を備えることを特徴とする測定装置。
IPC (5件):
A61B 5/145 ,  G01B 11/02 ,  A61B 10/00 ,  A61B 5/040 ,  A61B 5/047
FI (4件):
A61B5/14 322 ,  G01B11/02 H ,  A61B10/00 E ,  A61B5/04 300M
Fターム (28件):
2F065AA04 ,  2F065AA24 ,  2F065BB28 ,  2F065CC16 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065DD11 ,  2F065FF05 ,  2F065GG21 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065NN08 ,  2F065NN20 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F065TT08 ,  2F065UU09 ,  4C038KK01 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KM03 ,  4C038KX01

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