特許
J-GLOBAL ID：201103051751636242

ピッキングシステムおよびピッキング方法

発明者：
久池井 茂

久池井 茂 について

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滝本 隆

滝本 隆 について

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増田 順

増田 順 について


出願人/特許権者：
独立行政法人国立高等専門学校機構

独立行政法人国立高等専門学校機構 について

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財団法人福岡県産業・科学技術振興財団

財団法人福岡県産業・科学技術振興財団 について

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株式会社セントラルユニ

株式会社セントラルユニ について


代理人 (2件)： 加藤 久 ,  久保山 隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-123242
公開番号（公開出願番号）：特開2011-248757
出願日： 2010年05月28日
公開日（公表日）： 2011年12月08日
要約：
【課題】ピッキング対象物体の置かれる向きに関わらず、ピッキング対象物体の識別処理時間を大幅に短縮することが可能なピッキングシステムおよびピッキング方法の提供。【解決手段】入力画像から閉領域を抽出する閉領域抽出手段13と、入力画像から閉領域の特異点を取得する特異点取得手段14と、特異点からいくつかの等しい距離上に存在する閉領域内の画素の含有度をそれぞれ算出することで、特異点周りの等距離画素強度パラメータを導出するパラメータ導出手段15と、ピッキング対象物体について等距離画素強度パラメータを予め導出したテンプレートデータを記憶するテンプレート記憶手段16と、導出された等距離画素強度パラメータをテンプレート記憶手段16に記憶されたテンプレートデータと照合し、ピッキング対象物体を識別する識別手段17とを含む。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
ピッキング対象物体の画像を入力する画像入力手段と、 前記画像入力手段により入力された画像から閉領域を抽出する閉領域抽出手段と、 前記閉領域の特異点を取得する特異点取得手段と、 前記特異点からの距離が最も遠い前記閉領域内の画素から順に抽出した複数の画素の前記特異点に対するそれぞれの角度の平均値を算出する姿勢検出手段と を含むピッキングシステム。
IPC (3件)：
G06T 7/60 ,  B25J 19/04 ,  A61B 19/00
FI (4件)：
G06T7/60 150P ,  G06T7/60 150C ,  B25J19/04 ,  A61B19/00 502
Fターム (29件)：
3C007AS35 ,  3C007DS01 ,  3C007ES02 ,  3C007KS04 ,  3C007KT01 ,  3C007KT05 ,  3C007KT11 ,  3C007KX07 ,  3C007LT06 ,  3C707AS35 ,  3C707DS01 ,  3C707ES02 ,  3C707KS04 ,  3C707KT01 ,  3C707KT05 ,  3C707KT11 ,  3C707KX07 ,  3C707LT06 ,  5L096BA05 ,  5L096BA06 ,  5L096CA02 ,  5L096EA35 ,  5L096EA43 ,  5L096FA09 ,  5L096FA32 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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